熱電阻溫度測量引線電阻消除方法

摘要:在熱電阻測量溫度的應(yīng)用場合中，引線電阻的存在會對溫度測量精度產(chǎn)生影響。首先，詳細(xì)論述了引線電阻對熱電阻溫度測量精度產(chǎn)生影響的原因，并就現(xiàn)在兩種主流的消除引線電阻方法從原理、算法、以及優(yōu)缺點(diǎn)方面進(jìn)行了分析。
       在工業(yè)過程控制領(lǐng)域，精度高溫度測量是一種很常見的測量參數(shù)。工業(yè)上常用的溫度傳感器有熱電阻和熱電偶，由于熱電偶測量的是相對溫度，需要冷端補(bǔ)償，導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)，所以熱電偶一般適用于測量500℃以上的較高溫度。而熱電阻不存在冷端補(bǔ)償?shù)膯栴}，精度高，性能穩(wěn)定，線性度好。常用的熱電阻有兩線制、三線制和四線制，三線制熱電阻由于實(shí)現(xiàn)成本較低，接線較方便，是目前應(yīng)用多的一.種方法。
1熱電阻測溫工作原理
      與熱電偶的測溫原理不同的是，熱電阻是基于電阻的熱效應(yīng)進(jìn)行溫度測量的，即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此，只要測量出感溫?zé)犭娮璧淖柚底兓涂梢詼y量出溫度。
一般的處理方式是溫度變送器通過給熱電阻施加-已知激勵(lì)電流測量其兩端電壓的方法得到電阻值(電壓/電流)，再將電阻值轉(zhuǎn)換成溫度值，從而實(shí)現(xiàn)溫度測量。目前應(yīng)用最廣泛的熱電阻材料是鉑和銅。鉑電阻精.度高，適用于中性和氧化性介質(zhì)，穩(wěn)定性好，具有--定的非線性，溫度越高電阻變化率越小;銅電阻在測溫范圍內(nèi)電阻值和溫度呈線性關(guān)系，溫度線數(shù)大，適用于無腐蝕介質(zhì)，超過150℃易被氧化，所以普遍采用銅熱電阻來測量-50℃~150℃的溫度。國內(nèi)常用的熱電阻材料有:R0=10Ω、R0=100Ω和R0=1000Ω等，它們的分度號分別為P10、Pu100、P1000;銅電阻有:R0=50Ω和R0=100Ω兩種，它們的分度號為Cu50和Cu100,RO表示熱電阻材料在溫度為0℃時(shí)對應(yīng)的電阻值，其中，P100和Cu50的應(yīng)用廣泛。
金屬熱電阻的電阻值和溫度，一般可以用以下的近似關(guān)系式表示，即

      式(1)中，Rt為溫度t時(shí)的阻值;R0為溫度t0(通常t0=0℃)時(shí)對應(yīng)電阻值;α為熱電阻溫度系數(shù)。
2存在的問題.
      根據(jù)國標(biāo)《GB/T36293--2018火力發(fā)電廠“分散控制系統(tǒng)技術(shù)條件》中5.6條輸人輸出模件(I/O)中5.6.1.8精度要求:模擬量輸入信號(高電平)±0.1%;模擬量輸人信號(低電平)±0.15%;模擬量輸出信號±0.25%可知，對熱電阻溫度測量的精度要求為±0.15%"。
      從熱電阻的測溫原理可知，被測溫度的變化是直接通過熱電阻阻值的變化來測量的，因此，熱電阻體的引出線等各種導(dǎo)線電阻的變化會給溫度測量帶來影響。
      引線的導(dǎo)體電阻計(jì)算公式為:R=ρ×L/S,其中，ρ為導(dǎo)體電阻率，L為導(dǎo)體長度，S為導(dǎo)體橫截面積。銅的電阻率ρ=0.017Ω:mm²/m,表示截面積1mm²長度1m的銅絲電阻為0.017Ω。首先，在實(shí)際現(xiàn)場中，在被測熱電阻距離測量設(shè)備較遠(yuǎn)的情況下，必須要用較長的引線將被測量傳送到測量設(shè)備信號輸人端，假設(shè)引線線徑為0.5mm²引線長度500m左右，這樣引線電阻最高可達(dá)十幾歐姆;其次，引線電阻的阻值會隨著溫度的變化而改變，且阻值與溫度變化的函數(shù)關(guān)系是非線性的，很難找到相應(yīng)的函數(shù)關(guān)系算法去消除。
      在通常工業(yè)應(yīng)用場合中，被測熱電阻阻值范圍為0Ω~1000Ω，當(dāng)熱電阻阻值越小或者引線越長，則引線電阻對熱電阻測量精度影響就越大，這樣如果不消除引線電阻對熱電阻測量帶來的影響，則熱電阻溫度測量的精度不能滿足國標(biāo)《GB/T36293--2018火力發(fā)電廠分散控制系統(tǒng)技術(shù)條件》中模擬量輸入信號(低電平)精度±0.15%的要求”。

3解決方法
      在各大分散控制系統(tǒng)(DCS)設(shè)計(jì)中，RTD(Resistance.TemperatureDetector)模件是基本的I0模件之一-.各個(gè)廠家針對引線電阻對RTD測量精度帶來的影響都有充分地認(rèn)識，都有特殊的設(shè)計(jì)來消除此影響。下面就兩種主流的實(shí)現(xiàn)方案進(jìn)行詳細(xì)的分析。
方法一
      本方法使用通用的單通道AD轉(zhuǎn)換芯片即可消除引線電阻對RTD測量精度的影響，具體實(shí)現(xiàn)電路如圖1所示。
      圖1中，r為引線線阻，范圍在0Ω~20Ω范圍內(nèi)，其阻值和1M相比，可忽略不計(jì);R為熱電阻阻值，其阻值隨著溫度變化而變化，范圍為0Ω~1000Ω。
根據(jù)深度負(fù)反饋中運(yùn)算放大器兩個(gè)輸人端的電流通常可視為零，即“虛斷”的特性可知

      根據(jù)深度負(fù)反饋中運(yùn)算放大器兩個(gè)輸人端之間的電壓通常非常接近于零”。即“虛短”的特性可知:Ua=Ub在電路設(shè)計(jì)時(shí)，選擇Ra=Re
       同理根據(jù)“虛斷”的特性可知

       計(jì)算可得，運(yùn)算放大器第一級輸出電壓U0=-R×I,此時(shí)運(yùn)算放大器輸出電壓與熱電阻阻值為線性關(guān)系,并且已與引線線阻r無關(guān)，即消除了引線電阻對熱電阻測量帶來的影響。
       同理，可計(jì)算出運(yùn)算放大器第二級輸出電壓U1=R×I×R/Rd,U1接入AD轉(zhuǎn)換芯片信號輸入管腳。在實(shí)際設(shè)計(jì)中，需要根據(jù)AD轉(zhuǎn)換芯片的基準(zhǔn)電壓來選擇Rf和Rd的電阻值，保證在熱電阻阻值(R)最大時(shí)U1的電壓范圍不超過AD轉(zhuǎn)換芯片基準(zhǔn)電壓。
      此方法通用性較強(qiáng)，可配合任意通用單通道AD芯片即可實(shí)現(xiàn)對RTD的正確測量。

方法二.
       隨著電子技術(shù)的發(fā)展，ADI公司推出了適用于熱電偶
       測量、RTD測量以及熱敏電阻測量的專用芯片。
       AD7792為適合精度高測量應(yīng)用的低功耗、低噪聲、完整模擬前端、內(nèi)置--個(gè)低噪聲，帶有3個(gè)差分模擬輸人的16/24位?-Δ型ADC。本方法將結(jié)合專用芯片AD7792的具體電路設(shè)計(jì)來分析如何消除引線電阻對熱電阻測量精度的影響。具體實(shí)現(xiàn)電路如圖2所示。
圖2中，r為線阻，范圍在0Ω~20Ω范圍內(nèi)，R為熱電阻阻值，范圍為0Ω~1000Ω。
AD采樣第一通道輸人電壓:Uail=(R+r)×I.
AD采樣第二通道輸人電壓:Uai2=(R+2r)×I
       在軟件設(shè)計(jì)時(shí)，需要同時(shí)啟動(dòng)AD芯片的兩個(gè)輸人通道進(jìn)行采樣并得到采樣數(shù)據(jù)，然后采用如下計(jì)算公式:2Uail-Uai2=2(R+r)×I-(R+2r)×1=R×I進(jìn)行計(jì)算，由此公式可知其計(jì)算結(jié)果與熱電阻阻值為線性關(guān)系，并與引線電阻r無關(guān)，此方法同樣也消除了引線電阻對熱電阻測量精度的影響。
此方法電路設(shè)計(jì)簡單，但是必須要配合專用芯片才能實(shí)現(xiàn)。
4結(jié)論
       本文對熱電阻測溫原理、引線電阻對熱電阻測量精度的影響進(jìn)行了詳細(xì)的論述，并就如何消除引線電阻對熱電阻測量精度帶來的影響給出了兩種解決方案。針對兩種方案分別從電路設(shè)計(jì)、計(jì)算方法以及優(yōu)缺點(diǎn)等方面進(jìn)行了詳細(xì)分析。上述兩種實(shí)現(xiàn)方法在DCS系統(tǒng)設(shè)計(jì)中均已得到廣泛的使用，效果顯著。